Ахроматическая F-тета линза с тремя длинами волн

Рекомендации по продукту | Ахроматическая F-тета линза с тремя длинами волн

Стандартные лазерные сканирующие линзы обычно рассчитаны на одну длину волны — переключение на другой лазер приводит к смещению фокуса, размытию пятен и размытию маркировки. Двухдиапазонные сканирующие линзы могут корректировать хроматическую аберрацию только между двумя длинами волн.

Трехволновой ахроматический сканирующий объектив — это специализированный сканирующий фокусирующий объектив, который одновременно устраняет хроматическую аберрацию для трех различных длин волн лазера. Все три длины волны используют один и тот же оптический набор; переключение между процессами осуществляется простым изменением источника лазерного излучения, без необходимости разборки объектива или перефокусировки. Это делает его идеальным для многопроцессных систем обработки композитных материалов.

Наиболее распространенная в промышленности комбинация длин волн: 355 нм (УФ), 532 нм (зеленый) и 1064 нм (ИК).

Трехволновой ахроматический F-тета сканирующий объектив

Основные преимущества оптических характеристик

1. Парфокальная трехволновая юстировка с обеспечением стабильного качества пятна.

Одновременная коррекция хроматической аберрации для длин волн 355/532/1064 нм (или пользовательских комбинаций полос RGB, UV-VIS-SWIR). Фокальные плоскости всех трех длин волн совпадают, обеспечивая постоянную округлость пятна по всему полю сканирования без осевой расфокусировки или хроматических искажений по краям.

2. Высокая точность обработки композитных материалов с минимальной погрешностью позиционирования.

Помимо хроматической аберрации, оптимизируются также кривизна поля, искажения, сферическая аберрация и кома. Высокая точность линейного f-тета сканирования позволяет выбирать длину волны в зависимости от конкретных требований к заготовке. Многоволновая композитная обработка деталей значительно повышает общую точность обработки.

3. Низкая кривизна поля и превосходная равномерность пятна по всему полю зрения.

Сценарии применения

343 нм — для удаления органических материалов, таких как фоторезист; 515 нм — для удаления металла или поликремния из пассивирующих слоев; и 1030 нм — для удаления ITO из пассивирующих слоев. Идеально подходит для ремонта и проверки панельных дисплеев.

Параметры продукта

Длина волны

1030 нм, 515 нм и 343 нм

Диаметр входного луча

10 мм

Эффективное фокусное расстояние (ЭФД)

250 мм

Размер фокусного пятна

46,94–46,97 мкм при 1030 нм 23,62–23,76 мкм при 515 нм 15,69–16,37 мкм при 343 нм

Поле сканирования

17×17 мм

Рабочее расстояние (РД)

224,5 мм

Общая длина объектива

46 мм

Внешний диаметр линзы

Φ82 мм

Кривизна поля

<0,1 мм

Искажение

<0,1%

Возможен индивидуальный дизайн, разработанный с учетом реальных требований.


Дата публикации: 08.07.2026